供应X-RAY无损检测成像系统

X-RAY无损检测成像系统-平板探测器 安竹光

 

高性能的动态平板探测器，图像好、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等特点，可以实现1x1原图30fps帧速率，

2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。

 

 

技术参数

规格

探测器类别

非晶硅

闪烁体

CsI GOS

图像尺寸(mm)

160×130

像素矩阵

1274×1024

像素间距(um)

125

A/D转换(bits)

16

灵敏度(LSB/nGy, RQA5)

1.4

线性剂量(uGy, RQA5).

40

调制传递函数@ 0.5 LP/mm

0.60

调制传递函数@ 1.0 LP/mm

0.36

调制传递函数@ 2.0 LP/mm

0.16

调制传递函数@ 3.0 LP/mm

0.08

残影(%, 300uGy, 60s)

<0.5

量子探测效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy)

0.73

量子探测效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy)

0.55

量子探测效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy)

0.45

量子探测效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy)

0.29

空间分辨率(LP/mm)

4.0

帧速率(fps)

15.

X-射线工作范围(kV)

40/-/150

传输方式

千兆网线

功率(W)

12

电源(V)

DC24

交流电源频率(Hz)

50/-/60

适配器输出电压(V)

24 DC

探测器尺寸(mm)

170×195×16mm

探测器重量(kg,不含线缆)

1.0±0.1

探测器外壳材料

碳板,铝合金

存储温度(ºC)

-20/-/55

工作温度(ºC)

5/-/35

存储和运输湿度(%RH)

10/-/75

工作湿度(%RH)

10/-/75

 

 

 

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